目前市面的二次元測量儀、三次元測量儀、測量投影儀與五次元一鍵式測量儀的區(qū)別？？？
現(xiàn)在市場的影像尺寸測量儀，有三次元測量儀、二次元測量儀和測量投影儀。而二次元測量儀跟測量投影儀難以區(qū)別，都是光學檢測儀器，在結(jié)構(gòu)和原 理上二次元測量儀通常是連接PC電腦上同時連同軟件一起進行操作，精度在0.002MM以內(nèi)，測量投影儀內(nèi)部是自帶微型電腦的，因此不需要再連接電腦，但在精度上卻沒有二次元測量儀那么精準，影像測量儀精度一般只能達0.01MM以內(nèi)。三次元測量儀是在二次元測量的基礎上加一個超聲測量或紅外測量探頭，用于測量被測物體的厚度以及盲孔深度等，這些往往二次元測量儀無法測量，但三次元測量儀也有一定的缺陷：
Ø 測高探頭采用接觸法測量，無法測量部分表面不 能接觸的物體；
Ø 探頭工作時，需頻繁移動座標，檢測速度慢；
Ø 因探頭有一定大小，因些無法測量過小內(nèi)徑的盲孔；
Ø 探頭因采用接觸法測量，而接觸面有一 定寬度，當檢測凹凸不平表面時，測量值會有較大誤差，同時一般測量范圍都較小。
光纖同軸位移傳感器以非接觸方式測量高度和厚度，解決了過去三角測距方式中無法克服的誤差問題，因此開發(fā)出可以同軸共焦非接觸式一鍵測量的3D輪廓測量設備成為亟待解決的熱點問題。
針對現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，提供五次元測量設備及其測量計算方法，具有可以非接觸檢測、更高分辨率、檢測速率更快、一鍵式測量、更高精度等優(yōu)點。五次元測量儀通過采用大理石做為檢測平臺和基座，可獲得更高的穩(wěn)定性；內(nèi)置軟件的自動分析，可一鍵式測量，只需按一個啟動鍵，既可完成尺寸測量，使用方便；采有非接觸式光譜共焦測量具有快速、高精度、可測微小孔、非接觸等優(yōu)點，可測量Z軸高度，解決測高探頭接觸對部分產(chǎn)品造成損傷的問題；大市場光學系統(tǒng)可一次拍取整個工件圖像，可使檢測精度更高，速度更快。并且可以概據(jù)客戶需要，進行自動化擴展，配合機械手自動上下料，完全可做到無人化，并可進行 SPC 過程統(tǒng)計。為客戶提供高精度檢測的同時，概據(jù) SPC 統(tǒng)計數(shù)據(jù)，實時對生產(chǎn)數(shù)據(jù)調(diào)整， 提高產(chǎn)品質(zhì)量，節(jié)約成本。
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